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분야 | 전기전자(C) > 반도체·디스플레이 | ||||||||
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적용 범위 | 이 규격은 반도체 소자의 내식성을 알아 내기 위한 염수 환경 시험에 관하여 규정한다. 이 시험은 노출 된 모든 표면에 대해 가혹한 해변 대기의 영향을 모 의 실험하는 가속 시험이다. 이것은 해양 환경 (marine environment)에 대하여 지정된 소자들에 한 해서만 적용된다. 염수 환경 시험은 파괴적인 것으로 간주한다. 일반적으로 염수 환경 시험은 IEC 60068-2-11에 따 르지만, 반도체의 특정한 요구 조건 때문에 이 규격 서의 항목들을 적용한다. | ||||||||
표준명(영어) | Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 13:Salt atmosphere | ||||||||
국제표준분류(ICS)코드 |
31.080.01 : 반도체 장치 일반 |
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국제표준 부합화 |
IEC 60749-13:2002(IDT) ※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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고시기관(고시번호) | (제02-1849 호) | ||||||||
고시사유 | |||||||||
KS심사기준 |
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페이지수 | 2 |
표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
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KS C IEC 60749-13 | 반도체 소자 — 기계 및 기후적 시험 방법 — 제13부: 염수 환경 | 2020-12-31 | 개정(표준) | 자체 검토에 의한 개정 | |
KS C IEC 60749-13(2017 확인) | 개별 반도체 소자-기계 및 기후적 시험 방법-제13부:염수 환경 | 2017-11-29 | 확인(구판) | 5년도래 확인표준 | |
KS C IEC 60749-13(2012 확인) | 반도체소자 - 기계 및 기후적 환경 시험방법 - 제13부: 염수환경 | 2012-12-31 | 확인(구판) | ||
KS C IEC 60749-13(2007 확인) | 반도체소자 - 기계 및 기후적 환경 시험방법 - 제13부: 염수환경 | 2007-08-31 | 확인(구판) | ||
KS C IEC 60749-13 | 개별 반도체 소자-기계 및 기후적 시험 방법-제13부:염수 환경 | 2002-12-31 | 제정(구판) | ||
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다. |
No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
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