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반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제18부：이온화 방사(전체 선량)
| 분야 | 전기전자(C) > 반도체·디스플레이 | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 적용 범위 | 이 규격은 코발트－60(60Co) 감마선원에서 나온 이온화 방사(전체 선량)가 패키지 반도체 집적 회로 및 개별 반도체 소자에 미치는 영향을 시험하는 데 필요한 시험 절차를 제공한다. 이 규격은 저선량률 이온 방사가 소자에 미치는 영향을 평가하기 위해 가속 어닐링 시험 방법을 제공 한다. 어닐링 시험은 저선량률 또는 시간 의존적인 영향을 크게 받는 소자에 적용할 때 중요하다. 이 규격은 정상 상태 방사에만 적용하며, 펄스형 방사에는 부적절하다. 이 규격은 군사용 또는 우주 산업 관련 응용품을 위해 고안된 것이다. 이 규격은 방사선에 노출된 소자의 전기적 특성을 저하시킬 수 있으므로, 파괴 시험으로 간주한다. | ||||||||
| 표준명(영어) | Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 18：Ionizing radiation(total dose) | ||||||||
| 국제표준분류(ICS)코드 |
31.080.01 : 반도체 장치 일반 |
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| 국제표준 부합화 |
IEC 60749-18:2002(IDT) ※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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| 고시기관(고시번호) | (제2006-0718 호) | ||||||||
| 고시사유 | |||||||||
| KS심사기준 |
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| 페이지수 | 8 | ||||||||
| 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|
KS C IEC 60749-18  |
반도체소자 — 기계 및 기후 시험방법 — 제18부：이온화 방사(전체 선량) | 2021-12-29 | 개정(표준) | 국제표준(ISO, IEC, ITU) 개정내용 반영 | |
| KS C IEC 60749-18(2021 확인) |
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제18부：이온화 방사(전체 선량) | 2021-09-28 | 확인(구판) | 5년도래 확인표준 | |
| KS C IEC 60749-18(2016 확인) |
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제18부：이온화 방사(전체 선량) | 2016-12-02 | 확인(구판) | 5년도래 확인표준 | |
| KS C IEC 60749-18(2011 확인) |
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제18부：이온화 방사(전체 선량) | 2011-12-13 | 확인(구판) | ||
| KS C IEC 60749-18 |
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제18부：이온화 방사(전체 선량) | 2006-11-30 | 제정(구판) | ||
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다. |
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| No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
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