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광증폭기 시험 방법－제11－1부：편광 모드 분산－존스 매트릭스 고유 분석 방법
| 분야 | 전기전자(C) > 전기·전자·통신부품 | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 적용 범위 | KS C IEC(또는 IEC) 61290 중 이 규격은 능동 광섬유를 사용하는 광섬유 증폭기와 반도체 이득 매질 을 이용하는 반도체 광증폭기(SOA)를 포함하여 현재 상업화된 모든 광증폭기에 적용된다. | ||||||||
| 표준명(영어) | Optical amplifier test methods－Part 11－1：Polarization mode dispersion－Jones matrix eigenanalysis method(JME) | ||||||||
| 국제표준분류(ICS)코드 |
33.180.30 : 광섬유 시스템 |
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| 국제표준 부합화 |
IEC 61290-11-1:2003(IDT) ※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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| 고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2020-0337호) | ||||||||
| 고시사유 | 5년도래 확인표준 | ||||||||
| KS심사기준 |
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| 페이지수 | 8 | ||||||||
| 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|
KS C IEC 61290-11-1(2020 확인)  |
광증폭기 시험 방법－제11－1부：편광 모드 분산－존스 매트릭스 고유 분석 방법 | 2020-11-02 | 확인(표준) | 5년도래 확인표준 | |
| KS C IEC 61290-11-1(2015 확인) |
광증폭기 시험 방법－제11－1부：편광 모드 분산－존스 매트릭스 고유 분석 방법 | 2015-12-29 | 확인(구판) | ||
| KS C IEC 61290-11-1(2010 확인) |
광증폭기 시험 방법－제11－1부：편광 모드 분산－존스 매트릭스 고유 분석 방법 | 2010-12-30 | 확인(구판) | ||
| KS C IEC 61290-11-1 |
광증폭기 시험 방법－제11－1부：편광 모드 분산－존스 매트릭스 고유 분석 방법 | 2005-09-30 | 제정(구판) | ||
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다. |
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| No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
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