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분야 | |
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적용범위 | |
국제분류(ICS)코드 | 31.080.01 : 반도체 장치 일반 |
페이지수 | 15 |
Edition |
No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
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1 | DIN EN IEC 60749-13:2018-10 | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2018); German version EN IEC 60749-13:2018 | 2018-10-01 | 표준 |
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