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IEC 60444-2:1980
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units- 발행일 : 1980-01-01
- 발행기관 : IEC
상세정보
| 분야 | TC 49 : Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection |
|---|---|
| 적용범위 | Describes a method of measuring the motional capacitance of quartz crystal units in the frequency range 1 MHz to 125 MHz with a total measurement error of the order of 5%. |
| 국제분류(ICS)코드 | 31.140 : 압전 장치 |
| 페이지수 | 18 |
| Edition | 1.0 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | IEC 60444-2:1980상세보기 | Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units | 1980-01-01 | 표준 |
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