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IEC 63185:2020
Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method- 발행일 : 2020-12-08
- 발행기관 : IEC
- 대체표준 : IEC 63185:2025
상세정보
| 분야 | TC 46/SC 46F : RF and microwave passive components |
|---|---|
| 적용범위 | IEC 63185:2020 relates to a measurement method for complex permittivity of a dielectric substrates at microwave and millimeter-wave frequencies. This method has been developed to evaluate the dielectric properties of low-loss materials used in microwave and millimeter-wave circuits and devices. It uses higher-order modes of a balanced-type circular disk resonator and provides broadband measurements of dielectric substrates by using one resonator, where the effect of excitation holes is taken into account accurately on the basis of the mode-matching analysis. |
| 국제분류(ICS)코드 | 33.120.30 : R.F. 연결기 |
| 페이지수 | 25 |
| Edition | 1.0 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | IEC 63185:2025상세보기 | Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method | 2025-03-19 | 표준 |
| 2 | IEC 63185:2025 RLV상세보기 | Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method | 2025-03-19 | 표준 |
| 3 | IEC 63185:2020상세보기 | Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method | 2020-12-08 | 구판 |
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