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IEC 62830-5:2021
Semiconductor devices - Semiconductor devices for energy harvesting and generation - Part 5: Test method for measuring generated power from flexible thermoelectric devices- 발행일 : 2021-01-21
- 발행기관 : IEC
상세정보
| 분야 | TC 47 : Semiconductor devices |
|---|---|
| 적용범위 | IEC 62830-5:2021 specifies the test method for measuring generated electric power from flexible thermoelectric devices under bending conditions. This document provides terms, definitions, symbols, configurations, and test methods that can be used to evaluate and determine the performance of flexible thermoelectric devices. This document also describes the test conditions such as temperature, temperature difference, contact conditions, insulation and bending radius of flexible thermoelectric devices. This document is applicable to flexible energy harvesting devices for flexible semiconductor devices. |
| 국제분류(ICS)코드 | 31.080.99 : 기타 반도체 장치 |
| 페이지수 | 32 |
| Edition | 1.0 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | IEC 62830-5:2021상세보기 | Semiconductor devices - Semiconductor devices for energy harvesting and generation - Part 5: Test method for measuring generated power from flexible thermoelectric devices | 2021-01-21 | 표준 |
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