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ISO 13067:2020
Microbeam analysis — Electron backscatter diffraction — Measurement of average grain size- 발행일 : 2020-07-15
- 발행기관 : ISO
상세정보
| 분야 | ISO/TC 202 : Microbeam analysis |
|---|---|
| 적용범위 | This document describes procedures for measuring average grain size derived from a two-dimensional polished cross-section using electron backscatter diffraction (EBSD). This requires the measurement of orientation, misorientation and pattern quality factor as a function of position in the crystalline specimen[1]. The measurements in this document are made on two dimensional sections. The reader should note carefully the definitions used (3.3) which draw a distinction between the measured sectional grain sizes, and the mean grain size which can be derived from them that relates to the three dimensional grain size. NOTE 1 While conventional methods for grain size determination using optical microscopy are well-established, EBSD methods offer a number of advantages over these techniques, including increased spatial resolution and quantitative description of the orientation of the grains. NOTE 2 The method also lends itself to the measurement of the grain size of complex materials, for example those with a significant duplex content. NOTE 3 The reader is warned to interpret the results with care when attempting to investigate specimens with high levels of deformation. |
| 국제분류(ICS)코드 | 71.040.50 : 물리화학적인 분석 방법 |
| 페이지수 | 26 |
| Edition | 2 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | ISO 13067:2020상세보기 | Microbeam analysis — Electron backscatter diffraction — Measurement of average grain size | 2020-07-15 | 표준 |
| 2 | ISO 13067:2011상세보기 | Microbeam analysis — Electron backscatter diffraction — Measurement of average grain size | 2011-10-28 | 구판 |
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