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Discrete semiconductor devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices
| 분야 | TC 47/SC 47E : Discrete semiconductor devices |
|---|---|
| 적용범위 | IEC 60747-15:2003 gives the product specific standards, requirements and test methods for isolated power semiconductor devices. These requirements are added to those given in other parts of IEC 60747, IEC 60748 and IEC 60749 for the corresponding non-isolated power devices. |
| 국제분류(ICS)코드 | 31.080.99 : 기타 반도체 장치 |
| 페이지수 | 101 |
| Edition | 1.0 |
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | IEC 60747-15:2024 | Semiconductor devices - Part 15: Discrete devices - Isolated power semiconductor devices | 2024-10-22 | 표준 |
| 2 | IEC 60747-15:2024 RLV | Semiconductor devices - Part 15: Discrete devices - Isolated power semiconductor devices | 2024-10-22 | 표준 |
| 3 | IEC 60747-15:2010 | Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices | 2010-12-16 | 구판 |
| 4 | IEC 60747-15:2003 | Discrete semiconductor devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices | 2003-06-11 | 구판 |
IEC 60747-11:1985 - Semiconductor devices. Discrete devices. Part 11: Sectional specification for discrete devices 상세보기
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