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분야 | TC 119 : Printed Electronics |
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적용범위 | IEC 62899-402-1:2017(E) specifies the measurement methods of the widths of the printed patterns in printed electronics. These printed pattern widths are treated as two-dimensional on a substrate. When the patterns are definitely affected by three-dimensional configurations, these are specified in measurement methods for thickness in printed electronics. |
국제분류(ICS)코드 | 31.180 : 회로기판 |
페이지수 | 12 |
Edition | 1.0 |
No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
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1 | IEC 62899-402-1:2017 | Printed electronics - Part 402-1: Printability - Measurement of qualities - Pattern width | 2017-03-03 | 표준 |
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