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IEC 62899-402-1:2025
Printed electronics - Part 402-1: Printability - Measurement of qualities - Line pattern widths- 발행일 : 2025-05-09
- 발행기관 : IEC
상세정보
| 분야 | TC 119 : Printed Electronics |
|---|---|
| 적용범위 | IEC 62899-402-1:2025 specifies the measurement methods of the width of line pattern and spaces between the line patterns in printed electronics. These printed line patterns are treated as two-dimensional on a substrate. When the patterns are definitely affected by three-dimensional configurations, these are specified in measurement methods for vertical variance in printed electronics. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: a) The title is changed from 'Printability – Measurement of qualities – Pattern width' to 'Printability – Measurement of qualities – Line pattern width' b) The term 'pattern width' is specified as 'line pattern width'. c) The measurement method of line pattern space is included. d) The definition and measurement of inner/outer edge lines are removed. |
| 국제분류(ICS)코드 | 31.180 : 회로기판 |
| 페이지수 | 16 |
| Edition | 2.0 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | IEC 62899-402-1:2025상세보기 | Printed electronics - Part 402-1: Printability - Measurement of qualities - Line pattern widths | 2025-05-09 | 표준 |
| 2 | IEC 62899-402-1:2017상세보기 | Printed electronics - Part 402-1: Printability - Measurement of qualities - Pattern width | 2017-03-03 | 구판 |
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