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IEC 63202-1:2019
Photovoltaic cells - Part 1: Measurement of light-induced degradation of crystalline silicon photovoltaic cells- 발행일 : 2019-06-20
- 발행기관 : IEC
상세정보
| 분야 | TC 82 : Solar photovoltaic energy systems |
|---|---|
| 적용범위 | IEC 63202-1:2019 describes procedures for measuring the light-induced degradation (LID) of crystalline silicon photovoltaic (PV) cells in simulated sunlight. The magnitude of LID in a crystalline silicon PV cell is determined by comparing maximum output power at Standard Test Conditions (STC) before, and after, exposure to simulated sunlight at a specified temperature and irradiance. The purpose of this document is to provide standardized PV cell LID information to help PV module manufacturers in minimizing the mismatch between cells within the same module, thereby maximizing power yield. |
| 국제분류(ICS)코드 | 27.160 : 태양 에너지 공학 |
| 페이지수 | 17 |
| Edition | 1.0 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | IEC 63202-1:2019상세보기 | Photovoltaic cells - Part 1: Measurement of light-induced degradation of crystalline silicon photovoltaic cells | 2019-06-20 | 표준 |
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