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    IEC TR 62240-2:2026 RLV

    Process management for avionics - Electronic components capability in operation - Part 2: Semiconductor microcircuit lifetime
    • 발행일 : 2026-10-23
    • 발행기관 : IEC
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    * RLV (Red-Line Version) : 구판과 최신판의 변경 사항을 빨간펜으로 표시해서 비교할 수 있게 만든 버전
    * CMV (Commented version) : 표준의 개정 시 변경 부분(레드라인)에 대한 코멘트(메모)가 추가된 버전
    * RLV 혹은 CMV를 구입하시면 최신판(Final version)은 별도로 구매하지 않아도 됩니다.

상세정보

분야
적용범위 IEC TR 62240-2:2026 RLV contains both the official IEC International Standard and its Redline version. The Redline version is available in English only and provides you with a quick and easy way to compare all the changes between the official IEC Standard and its previous edition.

IEC TR 62240-2:2026 focuses on original equipment manufacturers (OEMs) using commercial off the shelf (COTS) semiconductor microcircuits for high performance, high reliability and long duration applications. This document supports OEMs in the preparation and maintenance of their semiconductor electronic component management plan (ECMP). IEC TR 62240-2:2026 describes a process and a method for selecting digital semiconductor microcircuits by ensuring that their lifetime is compatible with the requirements of aerospace, defence and high performance (ADHP) applications (generally in connection with functional environments). Methods and guidelines are provided to assess the long-term reliability of COTS semiconductor microcircuits in such applications; they mainly apply during the electronic design phase when selecting semiconductor microcircuits and assessing the application reliability. Moreover, this document focuses on the intrinsic wear-out and the lifetime of COTS semiconductor microcircuits processed of less than or equal to 90 nm feature size (also called deep sub-micron (DSM) semiconductor microcircuits) and puts aside, at this time, packaging wear-out and random failure mechanisms. In this view, physics of failure (PoF) is at the heart of the approach.
This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
a) introduction of an additional alternative path and approach where lifetime is assessed by the original component manufacturer based on user or original equipment manufacturer microcircuit mission profile;
b) update of Figure 1 with regard to the introduction of the additional alternative path & approach;
c) removal of the mention of SiC & GaN technologies from the considerations in 4.2.2 as the Scope indicates that the principles (process and method) described in this document can be applied to all types of semiconductor technologies.
국제분류(ICS)코드 03.100.50 : 생산. 생산관리
31.020 : 전자 부품 일반
49.060 : 항공 전자 장비 및 시스템
페이지수 58
Edition 2.0

이력정보

No. 표준번호 표준명 발행일 상태
1 IEC TR 62240-2:2026 RLV상세보기 Process management for avionics - Electronic components capability in operation - Part 2: Semiconductor microcircuit lifetime 2026-10-23 표준

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