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반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제1부：일반 사항
| 분야 | 전기전자(C) > 반도체·디스플레이 | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 적용 범위 | 이 규격은 반도체 소자(개별 소자 및 집적 회로)에 적용 가능하며, IEC 60749 시리즈의 모든 규격에 적용되는 공통적인 조항을 제정한 것이다. 이 규격과 관련 구매 규격이 상충될 경우, 구매 규격을 따른다. | ||||||||
| 표준명(영어) | Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 1：General | ||||||||
| 국제표준분류(ICS)코드 |
31.080.01 : 반도체 장치 일반 |
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| 국제표준 부합화 |
IEC 60749-1:2002(IDT) ※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
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| 고시기관(고시번호) | (제2006-0718 호) | ||||||||
| 고시사유 | |||||||||
| KS심사기준 |
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| 페이지수 | 3 | ||||||||
| 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|
KS C IEC 60749-1(2021 확인)  |
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제1부：일반 사항 | 2021-09-28 | 확인(표준) | 5년도래 확인표준 | |
| KS C IEC 60749-1(2016 확인) |
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제1부：일반 사항 | 2016-12-02 | 확인(구판) | 5년도래 확인표준 | |
| KS C IEC 60749-1(2011 확인) |
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제1부：일반 사항 | 2011-12-13 | 확인(구판) | ||
| KS C IEC 60749-1 |
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제1부：일반 사항 | 2006-11-30 | 제정(구판) | ||
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다. |
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| No. | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 | |
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| 검색된 결과가 없습니다. | |||||||
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